高低溫應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱
- 更新時(shí)間：2024-07-03
高低溫應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。外箱采用SUS304＃霧面線條處理不銹鋼板，內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS＃304鏡面鋼板。
| 品牌 | 艾思荔/Asli | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
高低溫應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。外箱采用SUS304＃霧面線條處理不銹鋼板，內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS＃304鏡面鋼板。外形設(shè)計(jì)美觀，各零部件安裝位置合理，靜電噴涂顏色能滿足客戶實(shí)驗(yàn)室整體配套要求。
試驗(yàn)箱規(guī)格：
內(nèi)尺寸：50×60×55㎝(W*D*H)
內(nèi)容積：165L
外尺寸：115×158×184㎝(W*D*H)
溫度范圍：-70℃～+150℃(氣冷式)
濕度范圍：10%～98%RH
降溫速率：20℃～-70℃/85min(空載下)
升溫速率：20℃～+150℃/45min(空載下)
發(fā)熱負(fù)載：250W.(40℃,90%RH)
溫度穩(wěn)定度：±0.2℃
濕度穩(wěn)定度：±2%
試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；
2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
13、EIA364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）
高低溫應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍：又名高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動(dòng)高低溫試驗(yàn)箱，用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測(cè)試工具.
為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
